冠层分析系统/植物多谱辐射计

冠层分析系统又名植物多谱辐射计，可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。TOP-2000冠层分析系统是叶面施肥的研究、用于土壤改善和肥力的研究的好助手。

冠层分析系统/植物多谱辐射计指标：
A、归一化植被指数(NDVI)
B、叶面积指数（LAI）
C、氮数含量（N）
D、植辐射指数(FITI)
波段:8个
中心波长:? 540nm,650nm,680nm,730nm, 810nm,940nm,1100nm,
操作范围:0到+50℃,0到100%相对湿度不凝结,<20%的相对湿度下贮藏
反射率区间:0到100%
分辨率:0.06%
精确度:±4%
检波器:发光二极管
尺寸：100×100×80mm
存储数据容量：160G
响应时间：2秒
重量:1kg

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