设备概述：
HZ-E30半导电屏蔽电阻率测试成套装置适用于测量电线电缆半导电屏蔽电阻,符合GB/T12706.2-2008中18.1.9以及附录D以及GB/T11017-2002等标准中规定要求。为了准确完成GB/T 12706、GB/T11017等标准中规定要求，本试验由BT-900A半导电屏蔽电阻率测试仪、电缆制样机和恒温烘箱来完成。
满足标准：
·GB/T 12706.2-2008中18.1.9以及附录D
·GB/T11017
主要技术参数：
·测量量程：2MΩ、200KΩ、20 KΩ、2 KΩ、200Ω五档，
·输出电流：1uA、10μA、100μA、1mA、10 mA。
·测量误差: 测量误差不大于±（0.5℅rd±2d）
·本仪器采用4位半数字表显示，数字表直接显示被测试样半导电屏蔽电阻的阻值。
·本仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国标GB/T 12706、GB/T11017等标准中规定的要求。
仪器规格：
·外形尺寸：375×280×260mm
·电源：AC220V 50/60Hz 0.5A
·烘箱：试验容积200L-300L，试验温度0-100±0.5℃（客户选配）
·电缆制样机：（客户选配）
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