提供半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪

提供半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪，是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。可用于高等院校，线路板、五金电镀、汽车制造、卫浴、连接器、钟表、珠宝首饰领域，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层．深圳金霖以最优的服务．膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标。