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深圳市金东霖科技有限公司

膜厚仪,测厚仪,膜厚测试仪,半导体测厚仪

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半导体膜厚测试仪

产品价格面议

产品品牌博曼

最小起订≥1 台

供货总量100 台

发货期限自买家付款之日起 3 天内发货

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更新日期2013-12-12 13:48

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商品信息

基本参数

品牌:

博曼

所在地:

广东 深圳市

起订:

≥1 台

供货总量:

100 台

有效期至:

长期有效
详细说明
半导体膜厚测试仪
规格描述
X射线激发系统:垂直上照式X射线光学系统
准直器程控交换系统:可同时装配4种规格的准直器
测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。                        
基本分析功能采用基本参数法校正。                  
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
半导体膜厚测试仪可检测元素范围:AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测,如Au karat评价                                        
材料和合金元素分析,
材料鉴别和分类检测                                        
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较                                       
元素光谱定性分析
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持
半导体膜厚测试仪的特点
(1)无损分析:无需样品制备
(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
(3)操作简单,只需要简单的培训
(4)分析只需三步骤
(5)杰出的分析准确性和精确性
(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
(7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。

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